您好,欢迎来到爱go旅游网。
搜索
您的当前位置:首页一种功率半导体元件驱动关断功能测试电路及其控制方法[发明专利]

一种功率半导体元件驱动关断功能测试电路及其控制方法[发明专利]

来源:爱go旅游网
专利内容由知识产权出版社提供

专利名称:一种功率半导体元件驱动关断功能测试电路及其控

制方法

专利类型:发明专利

发明人:陈政宇,曾嵘,赵彪,余占清,刘佳鹏,周文鹏,尚杰申请号:CN201911089830.5申请日:20191108公开号:CN111007375A公开日:20200414

摘要:本发明提供一种功率半导体元件驱动关断功能测试电路及其控制方法,所述测试电路中,直流电源负极接地,正极与第一开关的一端连接;第一开关的另一端连接第一电阻的一端和第二开关的一端;第一电阻的另一端连接第三开关的一端和第一极性电容的正极;第三开关的另一端通过电感与第二电阻的一端连接;第二电阻的另一端连接第一二极管的阳极;第一二极管与功率半导体元件的驱动电路并联;第一二极管的阴极连接第二二极管的阳极;直流电源的负极连接第二开关的另一端、第一极性电容的负极和第二二极管的阴极。本发明的关断功能测试电路可直接地测试驱动最大关断能力,原理简单且容易实现,实验平台成本低,操作安全,结构需求简单,体积小,成本低。

申请人:清华大学

地址:100084 北京市海淀区清华园1号

国籍:CN

代理机构:北京知联天下知识产权代理事务所(普通合伙)

代理人:张陆军

更多信息请下载全文后查看

因篇幅问题不能全部显示,请点此查看更多更全内容

Copyright © 2019- igat.cn 版权所有 赣ICP备2024042791号-1

违法及侵权请联系:TEL:199 1889 7713 E-MAIL:2724546146@qq.com

本站由北京市万商天勤律师事务所王兴未律师提供法律服务