提高微波信号到达角精度的测量系统及测量方法[发明专利]

来源：爱go旅游网

专利内容由知识产权出版社提供

专利名称：提高微波信号到达角精度的测量系统及测量方法专利类型：发明专利发明人：陈浩

申请号：CN202010262333.7申请日：20200406公开号：CN1114241A公开日：20200728

摘要：本发明公开了一种提高微波信号到达角精度的测量系统及测量方法：激光源连接光耦合器输入侧，光耦合器3端口连接一号偏振控制器，4端口连接二号偏振控制器，一号偏振控制器串联双平行马赫‑曾德尔调制器、一号低频光电探测器、一号低频频谱分析仪，二号偏振控制器串联三号双驱动马赫‑曾德尔调制器、二号低频光电探测器、二号低频频谱分析仪；一号双驱动马赫‑曾德尔调制器一端口连接二号天线，一端口经一号功率分配器连接一号天线；二号双驱动马赫‑曾德尔调制器一端口接地，一端口经二号功率分配器连接本机振荡器；三号双驱动马赫‑曾德尔调制器一端口经一号功率分配器连接一号天线，一端口经二号功率分配器连接本机振荡器。

申请人：陈浩

地址：300252 天津市河东区彩丽园56号楼206室

国籍：CN

代理机构：天津市北洋有限责任专利代理事务所

代理人：吴学颖

更多信息请下载全文后查看

因篇幅问题不能全部显示，请点此查看更多更全内容

查看全文