专利名称：一种DAC电路并行测试系统及并行测试方法专利类型：发明专利发明人：叶刚
申请号：CN201610970057.3申请日：20161103公开号：CN106603074A公开日：20170426
摘要：本发明公开了一种DAC电路并行测试系统及并行测试方法，所述的测试系统包括自动测试机ATE和安装于测试载板上的多个被测MCU、控制处理MCU以及与被测MCU一一对应的ADC采样电路，每一个被测MCU中均有一个被测试DAC电路，所述自动测试机ATE与每一个被测MCU以及控制处理MCU连接，控制处理MCU与每一个被测MCU连接以及与每一个ADC采样电路连接。在原有的测试系统中增加高处理能力的控制处理MCU和高精度的ADC采样电路，能够实现对多个被测MCU中的被测试ADC电路同时并行测试，对自动测试机ATE的性能要求不会太高，提供了并行测试能力和测试效率，节约了测试时间。
申请人：武汉新芯集成电路制造有限公司
地址：430205 湖北省武汉市东湖开发区高新四路18号
国籍：CN
代理机构：北京轻创知识产权代理有限公司
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