专利名称：存储器存储装置及其存储器测试方法专利类型：发明专利发明人：张昆辉,林哲民申请号：CN201910553942.5申请日：20190625公开号：CN112133362A公开日：20201225
摘要：本发明提出一种存储器存储装置及用于测试其存储器阵列的存储器测试方法。所述存储器测试方法包括以下步骤：写入第一数据至存储器阵列的多个第一区段，以及写入第二数据至存储器阵列的一个第二区段；读取所述多个第一区段以得到第三数据，以及读取所述第二区段以得到第四数据；以及将第四数据转换为第五数据，其中第五数据相同于第一数据经由存储器存储装置的解码电路所对应的编码电路编码所得到的校验数据。
申请人：华邦电子股份有限公司
地址：中国台湾台中市大雅区科雅一路8号
国籍：CN
代理机构：北京同立钧成知识产权代理有限公司
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