专利名称：一种轨道电路一次参数测试仪专利类型：实用新型专利发明人：鲍小飞,范雪芳,徐文孝申请号：CN201720093550.1申请日：20170124公开号：CN206557333U公开日：20171013
摘要：本实用新型公开了一种轨道电路一次参数测试仪，包括MCU控制、上位机、负载控制和测量电路，所述的MCU控制模块连接有上位机、面板输入与显示模块和负载控制，MCU控制通过串口通讯连接测量电路，所述的MCU控制上还设有正弦波信号源、功放电路和幅度调节电路，功放电路连接轨道。
申请人：浙江兰科电子有限公司
地址：321100 浙江省金华市兰溪市经济开发区秋菱路9号
国籍：CN
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