专利名称：一种半导体导电性能测试系统专利类型：发明专利发明人：楼天涯
申请号：CN201910708468.9申请日：20190801公开号：CN110275100A公开日：20190924
摘要：本发明公开了一种半导体导电性能测试系统，主要包括机壳，所述机壳内设有一个传动腔和感应腔以及一个分级腔，所述传动腔内设有为装置运行提供动力的驱动机构和一个将半导体输送检测分级的输送机构以及一个返回机构，所述感应腔内设有感应半导体导电性能的感应机构，该装置根据待检测的半导体的导电性能不同将半导体分为两个等级，利用其通电后导电性能的强弱驱动感应线圈产生两个不同大小的磁力对输送通道进行分叉，然后自动将不同等级导电性能的半导体送入两个不同的收纳腔内进行收集。
申请人：天台卫冕智能科技有限公司
地址：318000 浙江省台州市天台县福溪街道上车村2-15
国籍：CN
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