专利名称：一种芯片以及芯片自修复方法专利类型：发明专利发明人：吴炜滨
申请号：CN201910101916.9申请日：20190118公开号：CN111459726A公开日：20200728
摘要：本发明公开了一种芯片自修复方法，所述芯片的电路模块包括易失性存储器、非易失性存储器、检测修复模块，所述自修复方法包括：给所述芯片上电；在所述芯片上电后，检测是否有检测到数据异常信号和/或检测到逻辑异常信号，当检测修复模块检测到所述数据异常信号和/或检测到所述逻辑异常信号发生时；所述检测修复模块读取所述非易失性存储器中的数据更新到易失性存储器数据中。解决了现有技术因为电池意外松动而引起的芯片损坏的技术问题。
申请人：中山远实微科技有限公司
地址：528400 广东省中山市三乡镇大布村振兴路68号3栋802-1室
国籍：CN
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