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LTCC基板用金锡焊接中的焊料控制

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电第17卷,第6期 Vo1.17.No 6 子与封装 ELECTRONICS&PACKAGING 总第170期 2017年6月 @ @ LTCC基板用金锡焊接中的焊料控制 申忠科,董一鸣,刘思栋 (南京电子器件研究所,南京210016) 摘要:针对在LTCC基板与壳体大面积金锡焊接可能出现的焊料溢出和堆积问题,提出了几种针对 性的开槽或基板下沉控制焊料流淌的方法并进行了讨论。最终实现了无溢出焊接,x射线照片结果显 示基板和壳体焊合孔隙面积在l0%以内。 关键词:金锡焊料;大面积焊接;焊料控制 中图分类号:TN325+.3 文献标识码:A 文章编号:1681-1070(2017)06—0001—04 The Controlling of Soldering in LTCC Substrate Au—Sn Soldering SHEN Zhongke,DONG Yiming,LIU Sidong (Nanjing Electronic Devices Institute,Nanjing 210016,China) Abstract:The paper focuses on solving the problem of overflow and heap of soldering when a kind of Au—Sn alloy is used in large area LTCC soldering.Some kinds ofmethods like recessing ceramic wafer and slotting are used.After some experiments and research,the method can well avoid the soldering heaping.The X—Ray Photos also show that the void rate ofsoldering area is below 10%. Keywords:Au・Sn soldering;large area soldering;control technology ofsoldering 化的曲线十分陡峭,而Ag72Cu28则相对平缓。一般而 l 引言 Au—Sn是微电子封装中广泛使用的一种合金口],也 言,钎焊温度在液相线温度以上30 ̄50℃为宜,在 Au-Sn焊时,成分改变对熔点变化的影响更显著,所以 随着Au的熔入,熔融合金熔点较易升高到钎焊温度 以上进而凝固,表现为液相存在区间相对狭窄,而且 流散性相对有限(易凝固堆积)。 在涉及到大面积焊接时,以基板在壳体上的焊接 为例,采用Au—sn焊时,考虑到其流散性,为了铺满整 是熔点在300℃左右能替代含铅钎料且焊接性良好的 一种重要焊料圆,尤其是Au80Sn20共晶焊料。它具有 导热性较好、熔点低、流动性好、抗热疲劳和蠕变性能 优良、强度高以及饱和蒸汽压低等诸多优点,随着电 子器件行业的迅速发展,其作用越来越突出,需求市 场也在不断扩大。 采用Au—sn焊时,一般器件或封装壳体表面会首 先镀覆金层以利于焊料润湿。然而由于此焊料本身对 Au的亲和性好,钎焊加热过程中镀层的Au会迅速进 入熔融焊料从而使其成分改变,进而熔点迅速提升。 如图1所示,以常见的Ag72Cu28共晶焊料为对比, Au80Sn20在共晶点附近随着Au成分的增加,熔点变 个基板底部区域,采用的焊料片往往只比基板尺寸略 小,焊料量较多,无可避免会溢出。若是Ag—Cu焊时, 焊料能大面积铺展,影响相对较小;而采用Au-Sn焊 时焊料易堆积,堆积区域平面平整度变差,从而使得 后续其他器件的贴装难以进行,必须避免。 本文研究了一类采用开槽或基板下沉方式控制 焊料溢出的方法。值得注意的是,在GJB2440A-2006 中一般要求散热板等板材焊料外溢厚度不超过025 mm, 收稿日期:2017—3.8 第17卷第6期 电子与封装 实际在一些宇航级产品中更是要求焊料堆高小于 0.05 mm。此外,还应充分考虑焊后孔隙率是否满足要 求——对尺寸小的基板,平整度等影响小,孔隙率一 般要求在15%以内;而对本文中面积较大基板的普遍 标准是孔隙率要在25%以下。 (a)0.075 mm厚焊料溢出状态 (a)Ag—Cu' ̄'tt料富Ag侧 (b)0.05 mm厚焊料溢出状态 图2焊料量对溢出的影响 在焊料铺展过程中,熔融焊料与铺展固态面间润 湿并产生弯曲液面,由Young-Laplace方程可知,弯曲 液面引入附加压力,具体值为: P=-o-( 1+ ) (1) 式中JP为弯曲液面两侧附加压力差, 为液体表 面张力, 和R。分别为曲液面两个垂直方向的曲率 (b)Au—Sn焊料富Au侧 半径,如图3(a)所示。 弯曲的焊料液面成为了焊料铺展的推动力。假设 将无限大的两个平板间隔很小地垂直插入焊料液面, 图1两种共晶焊料二元相图 2 焊料调节槽的设计 要对Au—Sn焊料进行控制,首先要从其润湿和铺 展行为上进行分析。就润湿而言,Au—Sn焊料与壳体结 如图3(b)所示,则液面由于附加压力作用会抬升,直 至与液体重力达到静力平衡,在任一时刻: AP=pgy-2o'cosO/a (2) 式中△P为附加压力与重力之差,P为液体密度,Y 构镀金层有良好的互熔特性,所以润湿性相对良好。 铺展则由于存在前文所述的Au溶解以及显著的熔点 提升所以有局限。图2是一类基板分别采用厚度为 0.075 mm和0.05 mm焊料片在壳体底部平面焊后,焊 料溢出的情况(为定位方便基板对应壳体区域上挖了 尺寸比基板略大、深度O.2 mm的镶嵌槽,基板规格约 35 mmx45 mm)。可见前者焊料溢出和堆积非常严重, 为任意时刻提升高度,0为接触角,o为平板间隙,g为 重力加速度。 当AP=-0时,焊料液面提升最大高度: = pga (3) 实际液体在流动中还受到粘滞阻力影响,而且焊 料铺展更是在水平条件下进行,假设只考虑内摩擦阻 后者虽然明显改善,但是多余焊料依旧溢出,并呈圆 斑状堆积(实测高度可能达到0.1 mm以上)。实际生产 中,基板本身有翘曲,壳体也有平面度,继续减小 焊料厚度会增加虚焊风险,而且也依旧难以保证焊料 不溢出和堆积,所以需要设计合理的焊料调节槽进行 控制。 力,则可参考流体力学中平板层流定常流动的速度大 小随高度变化方程: 等 号 矗等 (C)所示。 (4) 式(4)为水平放置的平板中液体流动速度方程,式 中 为液体速度,a为平板间隙,’7为液体粘度,如图3 由于水平状态没有重力,焊料流动只受弯曲液面 一2. 第l7卷第6期 申忠科,董一鸣,刘思栋:LTCC基板用金锡焊接中的焊料控制 附加压力的推动,且此压力值恒定,则式(4)中的dP/dx・ 即相当于式(2)中消去重力后的值2orcos0/a,此值代入 式(4)中,可求出y ̄=a/2时有最大速度值: =_从而促进润湿铺展;式(6)决定了铺展面积,对同种焊 料,理论上焊缝间隙越大,因流体粘滞力造成的损耗越 小,铺展速度和单位时间内铺展面积都较大(焊料充足 的情况下)。所以焊缝间隙要在填缝高度和填缝能力 之间综合考虑。 综上所述,本文构造了一类V型槽,这类槽下端 ao-cosO 4T/ (5) 则以式(5)的最大速度作为焊料铺展速度,得到填 缝长度L与时间的关系: L=atrcos0・t/(4 ̄7) (6) 间隙小,毛细作用强烈,铺展推动力较大,能较好地推 动焊料流动,从而防止堆积,即使溢出量较少也能产生 式(6)可以解释焊料填缝过程:式(3)决定了液体 作用;而上端间隙较大,即使某处大量溢出也能保证导 流速度,相对于等宽槽更能兼顾毛细流动与焊料的容 纳量。  1焊料填缝高度,若水平焊缝宽度大于最大填缝高度,则 液体不能完成爬升,也无法在两个面之间构成曲液面 C ———— :=二 、 E r● 0 (a)弯曲曲面曲率与做功示意图 (b)平板焊料爬升示意图 图3毛细作用示意图问 (c)平板层流速度分布 表1开槽形式说明表 3 试验与结果分析 本文采用的材料包括:AISi50板,开槽后进行镀 覆,具体为镀Ni约2 p,m,再镀Au约2 m,平面度实 测在0.03 mm以内,表面粗糙度3.2 m以内,基板在 其上焊接;LTCC基板,待焊面的共烧金层厚度约8 Ixm, 平面度实测在0.06 mm以内,表面粗糙度3I2 m以 内;金锡焊料,成分为AuSOSn20,片状。 表l中内槽型指开槽形状如同“王”字、处于相对 基板中间区域的槽;外围型指沿着基板轮廓、V开口上 端设计尺寸一半暴露在外另一半在基板底部的整圈 闭合的开槽。 3.1开槽形式 A1Si50板需开的V型槽开角为30。,采取了四种 不同的V型槽分布形式,如图4所示,表1则为具体 开孔形式说明。 3.2焊接工艺 试验采用焊料厚度为0.05 mm,设计尺寸比基板 轮廓整个边沿内缩0.1 mm,按如下工艺进行焊接: (1)焊接前,将平板、Au—Sn焊料以及基板在石墨 板上依次叠放,在显微镜下拨正相对位置,注意焊料不 要超出V型槽或下沉最外边沿; (2)在基板上中心位置置一重约50 g的重块,压 (a)类型1 (b)类型2 住以防止周转过程中基板和焊料移动; (3)端取石墨板,将整个待焊结构放入钎焊炉中, 设置温度曲线为250℃以下升温速率lO℃/min,至 250℃保温1 min后,5"C/min升至335℃保温3 min (c)类型3 (d)类型4 后,炉冷至室温取样。 3.3形貌观察 .图4不同控制槽分布形式 3一 采川上述 艺焊接,分刚刈‘ 种状态形貌进行考 察,肜猊攻¨图5所 。 { (a)_炎 1 (b)类 2 口 (c)焚 3 (d) 4 (c)炎 2局部放人(30x) 5不 外悄方式刈 的焊料控圳效 由【剐5可以看Ⅲ,类 4卡Ill刈 f:图2(b),焊料溢 出和堆积郜存减少; 次是类 l,焚型2羊l】类 3则 基今厄焊料外溢,原 如下: (1)类型4相对1 朱开槽状态,V型惜起列 效作 用,承 J 部分焊料的分流,但惜深有限,所以 纳焊 料 仃限,依旧有溢…; (2)类型l采『{j的“王”字 结构,儿惜深度为 0.5 mm,V槽可容纳焊料量进一步增加,所以溢出也 进・步减少; (3)炎 3为平板尼卜沉、 J JF一圈深度().5 mm 楷的结构,V惜总长卡l{对于“上”宇 结构更火,所以容 纳能力比类型l虹强,也表现出巫好的肜貌。此处边 沿略微仃溢出,但没仃明显堆 , 当为前 料破 迅速挤出过焊料槽, 多余焊料最终仍被V借 流吸 网留 的痕迹; (4)埘比类型3羊I】类 4,类 4 兀0.2 mm的 侧啭 丛板问也构成r一道楷,加} V槽自身03 mm, 实际焊料容纳量不比类型3小,仉溢出却严雨 多,i兑 叫V槽 一类很何效 的焊料控制; (5)类 2外观最为美观,同时开:槽长度也由专人。 对 进行30倍的局部放火观察 J-以看 ,外轮廓V 槽明 仃焊料流动痕迹,槽巾焊料前端和上表 鄙 现曲液 。某些段V惜几乎破填满电没有溢…,应当 是大 挤出焊料彼导流的结果, 晚叫_r V措的效果。 一a一 3.4 x射线分析 对缺板 接质 的 ・项重要【人】容 焊后扎隙 ,焊十三}扎隙l面积过火,刈‘膳板焊合 度和敞热指 标鄙十分小利。为此埘I 述小同类 惜板焊后进行 j-x射线分析,结 如图6所示。 (a) i (b)  ̄i,J2 (c)焚 3 (d)类’ 4 6小 外槽方式 后X射线 川 从I 述结 町以看出, 型2和类 3相对仔 f194L隙较多,分圳达到4.07%{ll 7.9l%,【 为此时两背 Jt:惜能容纳焊料量多, 焊料不能填满惜的情况下, 部分气体/f 能排除形成钎焊【Il典 的“小乜田” 结构 从 造成r扎隙。但这类彳L隙面积都 l()%以 能 满 常需求。此外,类 2边缘无焊料溢出,类 3 溢Ⅲ堆离吱洲 0.01 mlTl以I~,也符合 i-:ta/C级标准要 求。从类 4结果可以HJ】 _仃出V憎 乡奎整个填满, 焊料/f 能 溢出,所以,、121 z.,g。是自 流动作 , I1Jj r V惜良好的导流效 ; 型2【{】 细碎扎涮, Idt{ j.V惜也仃人量未填充满的空白,院HJ】U『】使V惜 设汁容纳最l纠 I 偏大的情况 也不会 敛焊料 不 。这是 乃 端毛fHlif ̄川较强的部俺 i 先被填充 J .剩下V借较斑的卜端枉I埘于基扳和呔部构成的水 牛借 仔 较人的毛细优 ,所以最终肜成了某61:"F 衡状态,1 会源源 断吸0『焊料造成 隙增火。 4 结论 采蚪】 突瓞板焊接 : 』 整 V 槽或者枢 壹J肢内部郡JI:V型僧 卡叶 ; ,可以何效避免基板火 fI 积焊叶1的焊料溢出和堆积,焊G-4L隙牢在10%以 人】,能较好避免焊后L夭】焊料堆积造成的装 失效,也 人人提高了焊 处理的效率。 (下转第】5页) 毖 ,未 :人规模集成电路测试押序 发技术j_】乏流稃』 b 瞎嗣a 鲰× 藉一 声p舻 w e1 6 总结 集成l乜路研市lJ、, 产、 『H锋 个阶段都要进 行反复多次的检洲,确保产 11,质 jf:研制J{:发出符合 系统要求的电路,尤 埘1-心Jf J 』: ‘}:的集成 1曼 强 . 章 -'7 W E Z k 野 I_ 1№ 电路,控制历 、 障装备的uJ.靠”i,集成电路的检测 关重要。编制‘ 完格、『1J‘ 、稳定、满娃电路要求 lfgNi ̄程序是一名测试工程帅必须具备的魑本素质。 测试技术作为集成}乜路发展的 点支撑技术,开 展人规卡;l集成电路fIl!lJ试技术研究,解决人 摸集成电 路测试方法,提外军Jt】人 模集成I 路 线I 1动化测 割13 犬 IN[ 、DN[ 洲lJl }l{{线 试能力,推动我旧集成电路 、 发腱,是缸一位集成 电路测吠1一作者应 的 。 口鲁i xl重x 声p 一 k f q{ t- “ i∞ d 1 参考文献: [I] .数 :l乜r.技术坫础【M]北康: : 等教育出版社, 1997 【2]刘 数 }:电路‘ 系统[M],IL康:消fl匕人 出版社, l993 【3】蒋安 . 址华趟人 卡;l策成电路测试[M].北京:电子 I_f: 出版 ,2005. 垦 !!! … 曼璺 .篓.薰釜苎 曼 r£ 暴 .、 作者简介: 章慧彬(1965一), 迎龙 ・人, 1986年 ,lk J fU_r.科技久 ,本科,iJf 究 , …Itl电r.FI-4 ̄嫩 公司第 n十八6jf究所从 求成电路测试工 。 U 接幕4页) 参考文献: 哈尔滨:哈尔滨11 I 大学 版仆,2006:26—30. 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