一,选择题。
1、ICP刻蚀机的分子泵正常运行时的转速大约在(B)RPM A 20000 B 32000 C 40000 D 18000 2、北微ICP本底真空和漏率指标为(A)时,设备能够正常工作 A 0—0.1mT <1mT/min B >2.5mT <2mT/min C 0.3-- 0.5mT <1.0mT/min D >0.5mT <2.5mT/min
3、NMC 刻蚀机当前SRF时间为(C)时,要求对设备进行开腔清洁
A 50H B 100H C 200H D 2000H 4、SLR ICP托盘、螺丝等清洗标准作业流程(ABC) A:用DI水喷淋托盘(底盘和盖子)、耐高温橡皮条(7根)、螺丝 B:用N2吹干
C:螺丝使用一次后清洗;托盘和橡皮条使用三次后清洗;当天全部声波清洗 5、ELEDE ICP铝盘、石英盖、密封圈清洗标准作业流程( ABCD )
A. 用DI水浸泡石英托盘20min B. 用DI水冲洗一遍 C. 用N2吹干
D.用IPA擦拭密封圈
6、ELEDE ICP卸晶片标准操作流程( ABC )
A.用专用螺丝刀把托盘的螺丝拧松,用手拧开,放回固定位置 B.用手轻轻地取出石英盖
C.用专用镊子将晶片夹放到相应的盒子里 7、CORIAL ICP卸晶片工艺步骤( ABC ) A. 用小起子将铝盖轻轻翘开 B. 移开铝板
C. 用真空吸笔将蚀刻片吸到相应的盒子里
二,填空题。
1.蚀刻好的晶片测得的高度是1.75um底径是2.74um那么需要进行补刻大约300S 2.蚀刻时一般设置氦气的压力是4Torr当实际压力超过 5.2Torr 会报警氦漏 3.NMC机台正常工作时分子泵的转速是32000 RPM
4.在NMC工作中氮气的作用是 吹扫腔体 氦气的作用时 冷却晶片(托盘) 氧气的作用是 清洁腔室 三氯化硼的作用是 蚀刻晶片 5. 1 Torr = 133 P a
6.清洗晶片时丙酮的作用是清洗 有机物 异丙醇的作用是清洗 丙酮
7.曝光使光刻胶有选择性,正胶 光照 地方,负胶 未被光照 地方,光刻胶被显影液反应掉
8.ICP的清洁没有做好会造成晶片 死区盲区 等缺陷
9.造成马赛克的因素有 晶片的平整度 , 匀胶的均匀性 , 曝光台的清洁度 10.NMC机台连续工作5小时需要做Dryclean
11. 每周五检查冷冻机冷冻液剩余情况,低于第一个金属环时应添加异丙醇 12. 当机台闲置2小时以上再生产时,应对机台进行一次预热动作 13.作业过程中,杜绝晶片放错片盒,以工艺记录本的刻号为准
14.实验时装片要仔细查看晶片,避免把好晶片当成废片作为陪片刻蚀 15.实验片刻蚀完放回原来的盒子中,不可另外单独存放
16.每蚀刻完一个RUN,抽取两片进行检测,检测数据如有异常,立即报告工艺人员 17.拿晶片测量数据时,不可用手触摸晶片表面,避免晶片污染导致测量误差 18.每班下班前保证有三盒有胶废片,用过的废片满一盒后要及时送往清洗站
19. 蚀刻前进行晶片的挑选,凡有马赛克、污染、针孔等缺陷超过0.2mm2 的不能蚀刻,收集到返工盒里,待满一盒,流到清洗站清洗
20.每次做完PM后连续做5个SEASON接着做4片实验,若实验片数据和外观OK就正常生产,负责在做3个SEASON和4片实验,直到能够生产为止 三,判断题:
1, ICP刻蚀的工艺气体是三氟甲烷__________________( × ) 2,Corial冷冻机里面装的是ACE ___________________( × ) 3,ICP石英托盘用ACE清洁_____________________( × ) 4, 真空吸笔头容易脱落,吸片前检查一遍吸笔头是否稳固________( √ ) 5,每次生产时用无尘布加IPA擦拭片盒和CM腔室___________( √ ) 6,操作员可更改ICP生产程序____________________( × ) 四,问答题:
1.在检测发现有很多的废片如满天星;边不对称;刮花等,试分析一下造成这些废片的原因。 答:造成满天星的因素可能是1晶片曝光过程中光刻板污染、显影过程中脱胶等,但是刻蚀前没有镜检,2装完片没有进行吹扫有颗粒落在晶片上,3机台长久没有做PM有颗粒掉在晶片上。
边不对称:1装片时没有调整好,2盖石英盖时造成晶片移位。
刮花:1装片调整时镊子刮到晶片,2目检时遗漏了刮花缺陷,3拧螺丝时手指衣袖等碰到晶片。
2.NMC机台在进行手动操作时,机台里只有一个托盘,托盘真正的位置在机械手臂上,但是系统显示托盘位置为未知状态,此时该如何操作?
答:点击手动模式再点击托盘同步,在“设置托盘存在状态下”设置腔室的选项为 托盘不存在,机械手臂为 托盘存在 托盘1,2,3,4,5的位置都设置为 托盘不存在 然后点击“与系统记录同步”点击“与设备信号同步”此时机械手臂上会显示有托盘,其他地方都没有托盘,这样就可以进行接下来的操作了。
3.什么叫做选择比?如果晶片上光刻胶的厚度是2.5um,要刻出高度约为1.55um的产品,那么理想的选择比应该是多少?
答:选择比就是蚀刻蓝宝石衬底的速度与蚀刻光刻胶的速度的比值。要刻出高度为1.55um的晶片理想的选择比应该是0.62以上 选择比=1.55∕2.5=0.62
4.下图是一X简化的NMC机台的工艺配方,描述一下各个参数的含义。 参数 Pressure(mTorr) SRFPower(W) Stable1 3 0 Etch1 3 Stable2 3 Etch2 3 Stable3 1.5 Etch3 1.5 1900 flow 0 0 1900 0 1400 0 BRFPower HeliumPressure(Torr) GasBCL3(300sccm) Time(sec) SRFReflectPower(W) BRFReflectPower(W) C5SetPoint 0 4 80 20 50 50 40 200 4 80 600 0 50 50 40 0 4 80 10 0 50 50 40 200 4 80 600 0 50 50 40 0 4 40 10 0 50 50 40 700 4 40 450 0 50 50 40 0 4 0 60 1000 50 50 40 PenvlvPositionDelayTime 0 答:Pressure(mTorr)工艺腔室压力,SRFPower(W)上电极加载功率,BRFPower
下电极加载功率,HeliumPressure(Torr)氦气压力,GasBCL3(300sccm)三氯化硼流量,Time(sec)蚀刻时间,PenvlvPositionDelayTime PV摆阀位置,SRFReflectPower(W)上电极反射功率,BRFReflectPower(W)下电极反射功率,C5SetPoint等离子体密度。 5.简述CORIAL ICP作业流程图
检查N2 、BCl3 、O2 、He压力,
PCW压力,温度等是否正常
系统开机
打开传输腔室
放置托盘
选择刻蚀程序
蚀刻作业
蚀刻结束,卸下晶片
6.简述CORIAL ICP装片工艺步骤
1. 装备好材料,包括石英托盘、带密封圈的铝盖、蓝宝石晶片; 2. 用无尘布蘸IPA擦拭石英托盘、铝盖; 3. 将密封圈均匀内陷于铝板小槽中;
4. 石英托盘背面朝上,用真空吸笔吸取晶片背面,按一定顺序放在晶片位置上,晶片平
边对准托盘平边;
5. 将铝盖放在晶片顶部,并轻压,使铝板嵌入托盘小槽中;
6. 装好后,用无尘布蘸些许IPA擦拭托盘背面,将托盘翻转,轻轻擦拭托盘边缘,小心
碰到晶片表面。
7. 简述CORIAL ICP清洗托盘作业流程图
DIW浸泡石英托盘
DIW冲洗 无尘布擦拭 N2吹干 IPA擦拭
8. 简述CORIAL ICP清洗反应室作业流程图
打开反应室
DI水清洗腔壁和石英窗口
IPA擦拭
用真空硅脂涂抹真空密封橡皮条
放置真空密封橡皮条
安装石英细管
关闭反应室
9.简述CORIAL ICP托盘清洗标准作业流程 A. 用DI水浸泡石英托盘20min; B. 用DI水冲洗一遍; C. 用N2吹干; D.用IPA擦拭;
E. 用真空硅脂涂抹真空密封圈。
10. 简述CORIAL ICP清洗反应室方法及步骤
A. 进入 C. 等待 D. 拆下石英细管,先用无尘布蘸上DIW,擦洗反应室内壁和石英窗口,再用无尘布蘸上IPA擦洗。注意检查下电极上的弹簧圈是否有损坏,如有损坏,请及时更换,最后清洁完后,按照图示安装石英细管; E. 用真空硅脂涂抹真空密封橡皮条,再放置好; F. 在 G. 结束后,盖上反应室,拧上螺丝,注意先不用拧紧,点击 检查N2 、BCl3 、O2 、He压力, PCW压力,Chiller温度等 系统开机, 启动上下位机控制程序 打开传输腔室 放置石英托盘 抽真空 蚀刻作业 蚀刻结束,卸下晶片 12. 简述ELEDE ICP装晶片标准操作流程 A. 用无尘布蘸IPA擦拭铝托盘表面(包括O-ring); B. 用专用镊子将晶片按照一定顺序夹放到托盘的各个位置上(如上图),以边缘均匀盖住 密封圈为准(除平边),如左下图(不含石英盖)所示; C. 放置石英盖时不能移动晶片,对准定位销将石英盖轻放至托盘上,以边缘均匀盖住密封 圈为准(除平边),如右下图(含石英盖)所示; D. 拧上螺丝(注意不拧紧,避免衣袖、手套碰到晶片表面); E. 用力矩螺丝刀拧内中外圈螺丝,每隔2个拧一次,分2次拧紧,1次检查; F. 检查一遍晶片是否放好,并用专用吹扫工具吹扫一遍; G. 用无尘布蘸IPA擦拭铝托盘底部,注意不可将IPA沾到晶片上; H. 将装载托盘轻放至片盒上。 13. 简述ELEDE ICP蚀刻作业操作 1, 打开传输腔室门,将片盒轻放在卡板上,刚好卡住定位销,切忌左右移动片盒; 2, 点击<配方>,打开<工艺配方>,检查所选配方的工艺参数; 3, 点击<片盒配方>,打开所选的片盒配方;若没有要选择的配方,则新建一个; 4, 点击<主界面>,查看片盒配方详细信息,确认无误,点击<开始工艺>; 5, 待工艺结束后,打开传输腔室门,取出片盒及托盘,卸下晶片; 14. 简述ELEDE ICP清洗石英盖、铝盘、螺丝作业流程图 螺丝超声波振动 DIW浸泡石英盖、铝盘 DIW冲洗 N2吹干 用无尘布擦拭 N2吹干 IPA擦拭 15. 简述ELEDE ICP清洗反应室作业流程图 打开反应室 取出石英件、陶瓷件、铝件、密封圈 用DI水擦拭石英件、陶瓷件、铝件、密 封圈 用IPA擦拭石英件、陶瓷件、铝件、密 封圈 安装反应室零部件 关闭反应室 16. 简述ELEDE ICP螺丝清洗标准作业流程 A.把螺丝装在小烧杯里,倒入IPA覆盖为宜,超声波振动10min ; B.用N2把螺丝吹干 17. 简述ELEDE ICP清洗反应室方法及步骤 A. 进入[维护/工艺模块],在[腔室操作]中点击[吹扫],至少吹扫100次; B. 吹扫完毕后,点击[吹大气],进行腔室破真空动作; C. 按照正确的流程打开反应室; D. 移走反应室零部件(石英盖、密封圈、内衬、压环等); E. 先用浸有DI水的无尘布擦拭反应室内壁,再用IPA擦拭,直到擦拭的无尘布上看不到残余物的颜色为止; F. 按照步骤E擦拭反应室其余每个地方,特别是真空测量孔; G.手动把升降针升起,用浸有IPA的无尘布擦拭三针; H.用浸有IPA的无尘布擦拭卡盘、聚焦环表面; I. 按照步骤E擦拭其他的部件(内衬、压环等); J.安装反应室零部件(石英盖、密封圈、内衬、压环等); K.关闭反应室; L.恢复反应室状态 18. 简述SLR ICP作业流程图 19. 简述SLR ICP装晶片标准操作流程 A:用打圈圈的方式使橡皮条均匀分布在底盘的各个小槽上; B:判断托盘的方向,以中间的区域为标准,若定位横边往下的,则托盘两边的两个小孔分别为左右两孔; C:用专用镊子将晶片夹放到托盘的各个位置上,并对准位置; D:把螺丝放在盖子的小孔里; E:以盖子边缘的一个小孔为左边,对应托盘的左边位置,小心地放在底盘上; F:用内六角起子对角地拧螺丝,分两次拧。第一次拧的程度为7成紧,第二次力度相对均匀地稍微拧紧; G:用专用吹扫工具吹扫已装好片的托盘一遍。 20. 简述SLR ICP清洗托盘、螺丝作业流程图 21. 简述SLR ICP清洗反应室作业流程图 22. 简述SLR ICP反应室清洗步骤 A:打开反应室(同时按住2个上升开关 向右推开腔体 ) B:用DI水清洗反应室(包括底座、腔壁、夹具) C:用吸尘器吸走遗留的尘埃和水分子 D:用异丙醇清洗反应室 E:用真空硅脂涂抹真空密封橡皮条,再用无尘布擦均匀 F:放置真空密封橡皮条(对角放置 压平整) G:关闭反应室(向左推腔体回原位 同时按住2个下降开关) 23. 简述本工站的详细工作流程、操作规X及注意事项。 因篇幅问题不能全部显示,请点此查看更多更全内容
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