专利名称：用于光刻设备的水平传感器布置、光刻设备及器件
制造方法
专利类型：发明专利
发明人：S·G·J·玛蒂吉森,A·J·登博夫申请号：CN201210311034.3申请日：20120828公开号：CN102967998A公开日：20130313
摘要：本发明公开了用于光刻设备的水平传感器布置、光刻设备以及器件制造方法。进一步地，本发明公开了一种测量光刻设备中的衬底上的至少一个大体反射性层表面的位置的方法以及相关的水平传感器和光刻设备。所述方法包括使用宽带光源执行至少两次干涉测量。在每一次测量之间，改变宽带源束的构成波长和/或在构成波长上的强度水平，使得在仅强度水平变化的情况下，对于束的构成波长的至少一部分所述强度变化不同。替换地，也可以应用单次测量和测量的随后的用以获得测量数据的处理(其中构成波长和/或在构成波长上的强度水平不同)以获得位置。
申请人：ASML荷兰有限公司
地址：荷兰维德霍温
国籍：NL
代理机构：中科专利商标代理有限责任公司
代理人：吴敬莲
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