一种质量特性测量装置[实用新型专利]

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专利名称：一种质量特性测量装置专利类型：实用新型专利发明人：不公告发明人申请号：CN2020213625.X申请日：20200713公开号：CN212766813U公开日：20210323

摘要：一种质量特性测量装置，属于航天飞行器质量特性测量技术领域，包括托盘(1)、支撑座(2)、支撑销(3)、测量销(4)、传感器(5)、限位销(6)；所述支撑座(2)包括三个相同的支撑架，每个支撑架的两端均设有支撑面；一个支撑面触地，另一个支撑面的中部设有凸台，两侧设有限位销安装孔和支撑销安装孔；每个支撑销安装孔上固定安装一个支撑销(3)；每个限位销安装孔上固定安装一个限位销(6)，所述托盘(1)在每个限位销(6)处设有定位孔，所述限位销(6)插入定位孔中；每个支撑面的凸台上安装一个传感器(5)，所述测量销(4)安装在托盘(1)上，测量销(4)的球头位于传感器(5)的球窝内。

申请人：北京凌空天行科技有限责任公司

地址：100176 北京市大兴区经济技术开发区荣华南路2号院3号楼1101

国籍：CN

代理机构：天津市鼎拓知识产权代理有限公司

代理人：任小鹏

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