存储器测试装置[实用新型专利]

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专利名称：存储器测试装置专利类型：实用新型专利发明人：不公告发明人申请号：CN201721751730.0申请日：20171214公开号：CN207690508U公开日：20180803

摘要：一种存储器测试装置，所述装置包括环形振荡电路以及计数电路。环形振荡电路配置为从存储器电路接收数据处理开始信号，并且响应于所述数据处理开始信号发生振荡信号，并从所述存储器电路接收数据处理结束信号，并且响应于所述数据处理结束信号停止发生所述振荡信号。计数电路配置为接收所述环形振荡电路输出的振荡信号，计算在所述振荡信号持续的时间内，所述振荡电路中的脉冲周期数，以根据所述脉冲周期数确定所述存储电路处理数据的时间。本实用新型技术方案可以实现测量所述存储器电路处理数据的时间，根据存储器电路的处理数据的时间来进行存储器的其他性能开发，这样便于研发人员更有效率地对存储器进行开发。

申请人：睿力集成电路有限公司

地址：230000 安徽省合肥市经济技术开发区翠微路6号海恒大厦526室

国籍：CN

代理机构：北京市铸成律师事务所

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