作成批准量具重复性和再现性报告零件号和名称：W10544004特性：3.25±0.1规范：R = 0.01000量具名称：数显卡尺量具号：5008量具类型：厚度XDIFF =测量单元分析重复性-设备变差（EV）EV =R × K1=0.01000=0.00591再现性-评价人变差（AV）0.00233杨欢日期：2014-6-1完成人：KCF1,KCF2,KCF3杨昌军Rp =0.07556% 总变差 （TV）试验K10.88620.5908%EV=100（EV/TV）=100(=24.11460.00591×0.590823/0.02450）%AV= （XDIFF × K2）2 - （ EV2/（nr））==n = 零件数%AV2=100（AV/TV）=100(=2.331573630.00057(0.00233×0.5231）2-(0.005910.00057r = 实验次数/（10 ×3））20.707130.5231/0.02450）评价人K2%重复性和再现性（GRR）GRR= EV 2 + AV 2=0.00591=0.005942%GRR=100（GRR/TV）=100(=24.22710.00594+0.000572零件234K30.70710.52310.44670.40300.37420.35340.33750.32490.3146判定标准：ndc%PV/0.02450）%零件变差（PV）PV=Rp × K3==0.07556×0.023770.3146=100（PV/TV）=100(=97.020.023775678/0.02450）%总变差（TV）TV= GRR 2 + PV 2==测量系统分析结果：1. %GRR=9.9866%，≤10%；2. 分级数ndc=14，≥5；3. 均值图显示，50%以上的点均在控制线外；4. 极差图显示，所有点均在控制线内。由以上判定测量系统可接受。作成：日期：批准：日期：0.005942+0.024500.023772=1.41（PV/GRR）==(1.410.0238910/0.00594）61. %GRR≤10%测量系统可接受；2. 10%<%GRR≤30%基于应用的重要性，测量装置的成本、维修的成本等方面的考虑，可能是可接受的。3. %GRR>30%4. 分级数ndc≥55. 均值图：50%以上的点要在控制线外；6. 极差图：所有点均须在控制线内。测量系统不可接受；
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