专利名称：EMMC芯片测试系统专利类型：发明专利发明人：李想,刘星亮
申请号：CN2019102428.5申请日：20190411公开号：CN1102042A公开日：20190927
摘要：本申请涉及一种EMMC芯片测试系统。所述EMMC芯片测试系统通过设置上位机和多个下位机，使得上位机可以同时监控多个下位机的EMMC芯片的测试过程，测试效率高。此外，每一个下位机搭载有多个EMMC芯片，使得下位机可以依次测试多个EMMC芯片，测试过程自动化，测试效率进一步提高，且节省人力物力。
申请人：珠海全志科技股份有限公司
地址：519080 广东省珠海市高新区唐家湾镇科技二路9号
国籍：CN
代理机构：广州华进联合专利商标代理有限公司
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