一种焊缝熔深、熔宽以及焊高的检测方法[发明专利]

(12)发明专利申请

(10)申请公布号 CN 107552994 A(43)申请公布日 2018.01.09

(21)申请号 201710883388.8(22)申请日 2017.09.26

(71)申请人 宁波市鄞州磁泰电子科技有限公司

地址 315194 浙江省宁波市鄞州区首南街

道新兴工业园区(72)发明人 于润桥　胡博　程东方　夏桂锁　

程强强　(74)专利代理机构 宁波市鄞州甬致专利代理事

务所(普通合伙) 33228

代理人 李迎春(51)Int.Cl.

B23K 33/00(2006.01)B23K 31/12(2006.01)

权利要求书1页 说明书3页 附图4页

()发明名称

一种焊缝熔深、熔宽以及焊高的检测方法(57)摘要

本发明提供一种焊缝熔深、熔宽以及焊高的检测方法，所述方法包括步骤：S1、提供一种焊缝检测仪，利用所述焊缝检测仪中的多组探头沿焊缝的延伸方向进行扫查；S2、获取所述多组探头中获取多个深度测量值，对所有的所述深度测量值进行拟合处理，获取拟合曲线；S3、根据拟合结果获取焊缝的熔深、熔宽以及焊高值。上述焊缝熔深、熔宽以及焊高的检测方法中，能较为准确的测量出焊缝熔核特征的各种指标，操作简便，检测效率高。此外，与常规的无损检测方法相比，该方法更适用于焊缝的检测。

CN 107552994 ACN 107552994 A

权　利　要　求　书

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1.一种焊缝熔深、熔宽以及焊高的检测方法，其特征在于，所述方法包括步骤：S1、提供一种焊缝检测仪，利用所述焊缝检测仪中的多组探头沿焊缝的延伸方向进行扫查；

S2、获取所述多组探头中获取多个深度测量值，对所有的所述深度测量值进行拟合处理，获取拟合曲线；

S3、根据拟合结果获取焊缝的熔深、熔宽以及焊高值。2.根据权利要求1所述的焊缝熔深、熔宽以及焊高的检测方法，其特征在于，步骤S3包括步骤：

S31、以多组探头所在直线作为x轴，x轴与所述拟合曲线的两个交点为A和B，过A点的垂直线与过B点的垂直线交接在C点处，与x轴垂直且穿过C点的直线作为y轴，获取所述深度测量值拟合后的曲线方程f(x)；

S32、获取f(x)与横坐标的交点A(a，0)以及C点的坐标(0，c)；S33、获取连接线AC与y轴的夹角α；S34、根据曲线方程f(x)、a、c以及α获取焊缝的熔深值、熔宽值以及焊高值。3.根据权利要求2所述的焊缝熔深、熔宽以及焊高的检测方法，其特征在于，A点和C点之间的距离b1以及B点和C点之间的距离b2均为该焊缝的熔宽值。

4.根据权利要求2所述的焊缝熔深、熔宽以及焊高的检测方法，其特征在于，利用

获取h值，其中h为焊高值。

5.根据权利要求2所述的焊缝熔深、熔宽以及焊高的检测方法，其特征在于，利用tanα＝f'(x)获取切点，并根据所述切点获取切线，计算点B到所述切线的距离s，s为所述焊缝的熔深值。

6.根据权利要求2所述的焊缝熔深、熔宽以及焊高的检测方法，其特征在于，根据多组探头的尺寸确定A点以及B点的坐标值。

7.根据权利要求1所述的焊缝熔深、熔宽以及焊高的检测方法，其特征在于，所述多组探头中设置有多个磁通门传感器，每一个所述磁通门传感器获取一深度测量值。

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CN 107552994 A

说　明　书

一种焊缝熔深、熔宽以及焊高的检测方法

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技术领域

[0001]本发明涉及焊缝检测领域，尤其涉及一种焊缝熔深、熔宽以及焊高的检测方法。背景技术

[0002]在国内外，几乎各个工业部门都应用焊接技术制造各种重要结构，特别是锅炉、压力容器、压力管道和各种钢结构主要是采用焊接方法制造的。有资料表明，通过焊接加工的钢材占世界钢材产量的50％以上。随着钢结构、压力容器的大量应用，焊缝质量的检测和评估越来越重要，特别是对焊缝的熔深、熔宽以及焊高的检测，越来越重要。如图1所示，熔深为h，熔宽为b，焊高为a(图中称之为焊缝厚度)。对于焊缝的检测，与之匹配的无损检测方法还紧紧局限在常用的射线、超声、磁法、渗透等方法上。但是这些方法检测效率低且操作复杂，因此提供一种高效率的焊缝检测方法，成为目前亟待解决的问题。发明内容

[0003]本发明要解决的技术问题是，提供一种焊缝熔深、熔宽以及焊高的检测方法，以实现对焊缝的熔深、熔宽以及焊高的高效检测。[0004]本发明的技术方案是：一种焊缝熔深、熔宽以及焊高的检测方法，所述方法包括步骤：

[0005]S1、提供一种焊缝检测仪，利用所述焊缝检测仪中的多组探头沿焊缝的延伸方向进行扫查；[0006]S2、获取所述多组探头中获取多个深度测量值，对所有的所述深度测量值进行拟合处理，获取拟合曲线；[0007]S3、根据拟合结果获取焊缝的熔深、熔宽以及焊高值。[0008]较佳的，步骤S3包括步骤：[0009]S31、以多组探头所在直线作为x轴，x轴与所述拟合曲线的两个交点为A和B，过A点的垂直线与过B点的垂直线交接在C点处，与x轴垂直且穿过C点的直线作为y轴，获取所述深度测量值拟合后的曲线方程f(x)；[0010]S32、获取f(x)与横坐标的交点A(a，0)以及C点的坐标(0，c)；[0011]S33、获取连接线AC与y轴的夹角α；[0012]S34、根据曲线方程f(x)、a、c以及α获取焊缝的熔深值、熔宽值以及焊高值。[0013]较佳的，A点和C点之间的距离b1以及B点和C点之间的距离b2均为该焊缝的熔宽值。

[0014][0015]

较佳的，利用获取h值，其中h为焊高值。

较佳的，利用tanα＝f'(x)获取切点，并根据所述切点获取切线，计算点B到所述切

线的距离s，s为所述焊缝的熔深值。[0016]较佳的，根据多组探头的尺寸确定A点以及B点的坐标值。

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说　明　书

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较佳的，所述多组探头中设置有多个磁通门传感器，每一个所述磁通门传感器获

取一深度测量值。

[0018]上述技术方案具有如下优点或有益效果：上述焊缝熔深、熔宽以及焊高的检测方法中，能较为准确的测量出焊缝熔核特征的各种指标，操作简便，检测效率高。此外，与常规的无损检测方法相比，该方法更适用于焊缝的检测。附图说明

[0019]参考所附附图，以更加充分的描述本发明的实施例。然而，所附附图仅用于说明和阐述，并不构成对本发明范围的。[0020]图1为现有技术中对焊缝熔深、熔宽以及焊高的介绍示意图；[0021]图2为本发明一种焊缝熔深、熔宽以及焊高的检测方法的流程示意图一；[0022]图3为本发明一种焊缝熔深、熔宽以及焊高的检测方法的流程示意图二；[0023]图4为本发明一种焊缝熔深、熔宽以及焊高的检测方法中的举例示意图一；[0024]图5为本发明一种焊缝熔深、熔宽以及焊高的检测方法中的举例示意图二。具体实施方式

[0025]下面结合附图和具体实施例对本发明一种焊缝熔深、熔宽以及焊高的检测方法进行详细说明。

[0026]如图2所示，一种焊缝熔深、熔宽以及焊高的检测方法，包括步骤：[0027]S1、提供一种焊缝检测仪，利用该焊缝检测仪中的多组探头沿焊缝延伸方向进行扫查；

[0028]S2、获取多组探头中的多个磁通门传感器的深度测量值，对所有的所述深度测量值进行拟合处理；[0029]S3、根据拟合结果获取焊缝的熔深、熔宽以及焊高值。[0030]在上述方法中，主要是利用了多组探头来对焊缝进行扫查。在扫查过程中，多组探头中的多个磁通门传感器均会获取一深度测量值，再将这些深度测量值进行拟合处理，根据拟合结果获取焊缝的熔深、熔宽以及焊高值。[0031]近一步来讲，如图3-5所示，根据拟合结果获取焊缝的熔深、熔宽以及焊高值的过程包括步骤：[0032]S31、建立直角坐标系，以探头所在直线作为x轴，x轴与拟合曲线的两个交点为A以及B，过A点的垂直线与过B点的垂直线交接在C点处，与x轴垂直且穿过C点的直线作为y轴，获取所述深度测量值拟合后的曲线方程f(x)；[0033]S32、获取f(x)与横坐标的交点A(a，0)，以及C点坐标(0，c)；[0034]S33、获取AC连接线与x轴的夹角α；[0035]S34、根据曲线方程f(x)、a、c以及α获取焊缝的熔深值、熔宽值以及焊高值。[0036]在上述过程中，主要是对拟合后的深度测量值进行相应的处理，以获取最终所需要的数据结果。在该处理过程中，首先要根据多组探头建立横坐标，获取拟合曲线与横坐标的两个交点A和B，根据过A点的垂直线和过B点的水平线获取交点C，再根据C点确定纵坐标，获取直线AC与x轴的夹角α，再根据上述数据获取焊缝的熔深值、熔宽值以及焊高值。

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说　明　书

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近一步来讲，夹角夹角α是通过焊缝检测仪上的测角器测量获取得到的。近一步来讲，根据多组探头的尺寸确定x轴坐标。近一步来讲，利用

获取h值，h为焊高值。

近一步来讲，利用tanα＝f'(x)获取切点值，并根据切点获取切线，计算点B到切线

的距离s，s为该焊缝的熔深值，A点和C点之间的距离b1以及B点和C点之间的距离b2均为该焊缝的熔宽值。

[0041]近一步来讲，根据多组探头的尺寸确定A点和B点的坐标值。[0042]近一步来讲，上述焊缝检测仪包括多组探头以及弱磁焊缝处理检测系统，多组探头中设置有多组磁通门传感器，每一传感器获取一深度测量值，而弱磁焊缝快速检测系统是用来对这些深度测量值进行统计分析，以最终获取焊缝的熔深值、熔宽值以及焊高值。[0043]上述焊缝熔深、熔宽以及焊高的检测方法中，能较为准确的测量出焊缝熔核特征的各种指标，操作简便，检测效率高。此外，与常规的无损检测方法相比，该方法更适用于焊缝的检测。

[0044]对于本领域的技术人员而言，阅读上述说明后，各种变化和修正无疑将显而易见。因此，所附的权利要求书应看作是涵盖本发明的真实意图和范围的全部变化和修正。在权利要求书范围内任何和所有等价的范围与内容，都应认为仍属本发明的意图和范围内。

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说　明　书　附　图

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图1

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说　明　书　附　图

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图2

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说　明　书　附　图

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图3

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说　明　书　附　图

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图4

图5

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