X射线发光断层成像的目标可行区提取方法[发明专利]

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专利名称：X射线发光断层成像的目标可行区提取方法专利类型：发明专利

发明人：易黄建,曲璇,侯榆青,贺小伟,张海波,焦璞申请号：CN2017104488.9申请日：20170614公开号：CN107411766A公开日：20171201

摘要：本发明属于分子影像技术领域，公开了一种X射线发光断层成像的目标可行区提取方法，基于光传输理论和有限元方法，利用光学特性参数和解剖结构等先验信息，设计N组不同网格进行全域重建，基于N个网格重建结果的统计分析，根据区域重叠程度提取一组新的可行区域，将可行区域作为重建区域进行再一次目标重建；通过减小重建区域降低了问题的病态性，有效提高了X射线发光分子断层成像的重建结果，在分子影像、重建算法等领域有重要的应用价值。本发明缓解了光学成像逆向问题中的病态性，有效提高重建质量；也可用于生物发光断层成像(BLT)，荧光分子断层成像(FMT)以及其他光学分子成像领域。

申请人：西北大学

地址：710127 陕西省西安市太白北路229号

国籍：CN

代理机构：西安长和专利代理有限公司

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