专利名称：Being the LSI inspection发明人：高島 政廣申请号：JP2000342723申请日：20001110公开号：JP3539920B2公开日：20040707
摘要：Array
申请人：松下電器産業株式会社
地址：大阪府門真市大字門真１００６番地
国籍：JP
代理人：森本 義弘
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