专利名称：一种薄膜衍射仪专利类型：实用新型专利
发明人：李玉德,王丽丽,刘世岗,郭非申请号：CN201320449508.0申请日：20130726公开号：CN203337574U公开日：20131211
摘要：本实用新型公开了一种薄膜衍射仪，用于对薄膜材料进行分析测试。所述薄膜衍射仪包括：用于提供线光源的X射线管，用于将X射线管发出的X射线接收并出射的薄膜附件，和用于接收经过被测薄膜材料衍射后的X射线并进行测试的探测器；其中，所述薄膜附件由多根圆柱形的毛细管重叠成一排而成，并且在薄膜附件的横截面中，所有毛细管的圆心处于一条直线上。本实用新型增强了照射到薄膜材料上的X射线的光强强度，有利于探测器对薄膜材料分析和测试。
申请人：北京师范大学
地址：100875 北京市海淀区新街口外大街19号北京师范大学核科学与技术学院
国籍：CN
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